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                產品資料

                超薄膜附著強度測試儀

                如果您對該產品感興趣的話,可以
                產品名稱: 超薄膜附著強度測試儀
                產品型號: CSR-2000
                產品展商: 其它品牌

                簡單介紹

                基于JIS R-3255標準,以MICRO SCRATCH法評價光學薄膜、半導體擴散工程、表面改質以及記憶媒體等各種用途的薄膜與基材,或薄膜與界面之間的密著力(附著強度)的超薄膜附著強度測試儀。為成膜研究與測試所必備的測試設備。


                超薄膜附著強度測試儀  的詳細介紹
                超薄膜附著強度測試儀
                基于JIS R-3255標準,以MICRO SCRATCH法評價光學薄膜、半導體擴散工程、表面改質以及記憶媒體等各種用途的薄膜與基材,或薄膜與界面之間的密著力(附著強度)的超薄膜附著強度測試儀。
                超薄膜附著強度測試儀的概要及特點
                超薄膜附著強度測試儀的概要
                原子化(分子化)的膜材料到達基材表面成型時,與基材表面的原子的結合數會直接影響到膜的密著強度。這個結合數,受分子的能量狀態、基板的清洗狀態等的影響。在與成膜有關的研究開發機工程管理中,可使用本設備進行密著強度的評價。
                以往的劃痕測試儀,摩擦膜表面造成破壞點時,依靠摩擦力的變化及音響信號等來評價密著強度。但是,膜厚在微米級以下的薄膜的破壞點很難檢測出來。為解決這個問題,采用高感度的能夠檢測出薄膜破壞的MICRO SCRATCH法,測試納米級別的薄膜的附著強度。*適合評價液晶顯示屏的透明電極膜、光學薄膜、DLC、磁盤的保護膜等的附著強度。
                超薄膜附著強度測試儀的特點
                • 具有直線增加荷重的控制功能,在鏡頭等的曲面上也能做測試
                • 可以進行以特定荷重來評價的特定負荷測試
                • 基于信號的FFT分析功能,高感度進行剝離檢測
                • 測試部位的設定以及測試后的劃傷觀察等簡單易行
                • 測試不需要花費很多時間(1次測試約1~2分鐘)
                • 與小型硬度計等薄膜物性測試儀相比,能夠在普通的操作臺上測試
                能進行JIS R-3255標準(以剝離為基板的薄膜附著性測試方法)的測試
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